Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение (ЭИ)
Тематика: нанотехнологии
Книжная серия: Нанотехнологии
Тип издания: электронное издание
Первый год издания: 2021
Издание: пер. с англ. — 4-е изд. (эл.)
Формат: 145х225 мм
Страниц: 601
ISBN: 978-5-00101-142-2
УДК: 621.3+681.54
ББК: 30.3+22.3
Вид издания: научное издание
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.
Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.
Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
1 - Навигация в электронном издании работает частично в зависимости от размера фрагмента.
Назад в раздел
